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熒光X線膜厚計

熒光X線膜厚計
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供應數量:
899
發布日期:
2023/3/2
有效日期:
2023/8/31
原 產 地:
已獲點擊:
899
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  [詳細資料]
鍍層測厚儀中文視窗操作測量係統
解析度0.001μm
小測量麵積0.1mmφ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個別厚度
籍由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象:IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業
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