熒光X線膜厚計
采用中文視窗操作測量係統解析度0.001μm小測量麵積0.1mmφ熒光X線膜厚計可測量合金層之厚度和組成比例熒光X線膜厚計可測量兩層以上鍍層之個別厚度籍由光譜分析可判定被測物之元素適用對象:IC導線架、封裝業、PCB業、精密零件業、電鍍業、電子業
中級會員
第16年