FiScherSCOp® X—RAY System XDL® —B及XDLM® —C4是采用技術標 準ASTM及B568，DIN60987， ISO 3497的X一射線熒光分析法來進行測 量， 下但可以測量金屬層厚度及金屬之 間的比重， 還可以進行金屬物料分析。 FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及 XDLM@—C4是采用全新數學計算方法來進行鍍層厚度 的計算， 在加強的軟件功能之下， 簡化了測量比較複 雜鍍層的程序， 甚至可以在不需要標準片之下， 一樣 可以測量。 它還采用*的焦距距離計算辦法（DCM）， 操作 員現在可以隨時改變焦距測量， 對一些形狀複雜的工 件尤其方便。 FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括： 特大及槽口式的測量箱、 向下投射式X—射線， 方便對位測量、軟件在視窗98下操作、 可在同一屏幕清楚顯示測量讀數及工件的位置。
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